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advanced vlsi design testability (36 risultati)
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,56
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 57,75
EUR 7,42 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,33
EUR 17,13 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 62,65
EUR 14,39 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 185.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,39
EUR 17,69 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 66,51
EUR 9,95 shipping
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 62,64
EUR 17,13 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 81,77
EUR 14,28 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 378 pages. 9.21x6.14x1.02 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 95,63
EUR 17,69 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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EUR 52,70
EUR 70,00 shipping
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Advanced VLSI Design and Testability Issues | Suman Lata Tripathi (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2022 | CRC Press | EAN 9780367538361 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,53
EUR 17,13 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,27
EUR 7,42 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,54
EUR 18,39 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days. 535.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 146,86
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,30
EUR 17,13 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 171,76
EUR 28,55 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. New. book.
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 194,04
EUR 14,28 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 67,72
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 63,77
EUR 5,73 shipping
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,40
EUR 23,00 shipping
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This bookfacilitates the VLSI-interestedindividuals with not only in-depth knowledge, but also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields, includingimage processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you the power to develop a new application aspect, which is very well taken care of in this book by using simple language in explaining the concepts. In the VLSI world, the importance of hardware description languages cannot be ignored, as the designing of such dense and complex circuits is not possible without them. Both Verilog and VHDL languages are used here for designing. The current needs of high-performance integrated circuits (ICs) including low power devices and new emerging materials, which can play a very important role in achieving new functionalities, are the most interesting part of the book. The testing of VLSI circuits becomes more crucial than the designing of the circuits in this nanometer technology era. The role of fault simulation algorithms is very well explained, and its implementation using Verilog is the key aspect of this book. This book is well organized into 20 chapters. Chapter 1 emphasizes on uses of FPGA on various image processing and biomedical applications. Then, the descriptions enlighten the basic understanding of digital design from the perspective of HDL in Chapters 2-5. The performance enhancement with alternate material or geometry for silicon-based FET designs is focused in Chapters 6 and 7. Chapters 8 and 9 describe the study of bimolecular interactions with biosensing FETs. Chapters 10-13 deal with advanced FET structures available in various shapes, materials such as nanowire, HFET, and their comparison in terms of device performance metrics calculation. Chapters 14-18 describe different application-specific VLSI design techniques and challenges for analog and digital circuit designs. Chapter 19 explains the VLSI testability issues with the description of simulation and its categorization into logic and fault simulation for test pattern generation using Verilog HDL. Chapter 20 deals with a secured VLSI design with hardware obfuscation by hiding the IC's structure and function, which makes it much more difficult to reverse engineer. 380 pp. Englisch.
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EUR 51,38
EUR 48,99 shipping
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Suman Lata Tripathi is associated with Lovely Professional University, Phagwara, Punjab, as Professor with more than seventeen years of experience in academics. Her area of expertise includes microelectronics device modeling and characterization, low pow.
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EUR 62,70
EUR 62,88 shipping
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This bookfacilitates the VLSI-interestedindividuals with not only in-depth knowledge, but also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields, includingimage processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you the power to develop a new application aspect, which is very well taken care of in this book by using simple language in explaining the concepts. In the VLSI world, the importance of hardware description languages cannot be ignored, as the designing of such dense and complex circuits is not possible without them. Both Verilog and VHDL languages are used here for designing. The current needs of high-performance integrated circuits (ICs) including low power devices and new emerging materials, which can play a very important role in achieving new functionalities, are the most interesting part of the book. The testing of VLSI circuits becomes more crucial than the designing of the circuits in this nanometer technology era. The role of fault simulation algorithms is very well explained, and its implementation using Verilog is the key aspect of this book. This book is well organized into 20 chapters. Chapter 1 emphasizes on uses of FPGA on various image processing and biomedical applications. Then, the descriptions enlighten the basic understanding of digital design from the perspective of HDL in Chapters 2-5. The performance enhancement with alternate material or geometry for silicon-based FET designs is focused in Chapters 6 and 7. Chapters 8 and 9 describe the study of bimolecular interactions with biosensing FETs. Chapters 10-13 deal with advanced FET structures available in various shapes, materials such as nanowire, HFET, and their comparison in terms of device performance metrics calculation. Chapters 14-18 describe different application-specific VLSI design techniques and challenges for analog and digital circuit designs. Chapter 19 explains the VLSI testability issues with the description of simulation and its categorization into logic and fault simulation for test pattern generation using Verilog HDL. Chapter 20 deals with a secured VLSI design with hardware obfuscation by hiding the IC's structure and function, which makes it much more difficult to reverse engineer.
