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Advances in Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops SSPR 2000 and SPR 2000 Alicante, Spain, August 30 - September 1, 2000 Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Da: GuthrieBooks, Spring Branch, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 3,46
Convertire valutaEUR 5,89 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Very Good. Ex-library paperback in very nice condition with the usual markings and attachments.
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Advances in Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR'98 and SPR'98, Sydney, Australia, August 11-13, 1998, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Da: GuthrieBooks, Spring Branch, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 29,33
Convertire valutaEUR 5,89 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Very Good. Ex-library paperback in very nice condition with the usual markings and attachments. Text block clean and unmarked. Tight binding.
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EUR 94,95
Convertire valutaEUR 7,56 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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EUR 94,95
Convertire valutaEUR 7,56 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Advances in Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR'98 and SPR'98, Sydney, Australia, August 11-13, 1998, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science, 1451)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,28
Convertire valutaEUR 3,36 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advances in Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops SSPR 2000 and SPR 2000 Alicante, Spain, August 30 - September 1, 2000 Proceedings (Lecture Notes in Computer Science, 1876)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,50
Convertire valutaEUR 13,78 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Advances in Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops SSPR 2000 and SPR 2000 Alicante, Spain, August 30 - September 1, 2000 Proceedings
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2000
ISBN 10: 3540679464 ISBN 13: 9783540679462
Lingua: Inglese
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Advances in Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR'98 and SPR'98, Sydney, Australia, August 11-13, 1998, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science, 1451)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,16
Convertire valutaEUR 13,78 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Advances in Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops SSPR 2000 and SPR 2000 Alicante, Spain, August 30 - September 1, 2000 Proceedings
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2000
ISBN 10: 3540679464 ISBN 13: 9783540679462
Lingua: Inglese
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 65,89 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the joint refereed proceedings of the 8th International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition and the 3rd International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SSPR 2000 and SPR 2000, held in Alicante, Spain in August/September 2000. The 52 revised full papers presented together with five invited papers and 35 posters were carefully reviewed and selected from a total of 130 submissions. The book offers topical sections on hybrid and combined methods, document image analysis, grammar and language methods, structural matching, graph-based methods, shape analysis, clustering and density estimation, object recognition, general methodology, and feature extraction and selection.
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Advances in Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops Sspr 2000 and Spr 2000 Alicante, Spain, August 30-September 1, 2000 : Proceedings
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,60
Convertire valutaEUR 28,75 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 901 pages. 9.00x6.00x1.25 inches. In Stock.
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Advances in Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, Sspr'98 and Spr'98, Sydney, Australia, August 11-13, 1998, Proceedings
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 160,90
Convertire valutaEUR 28,75 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 1047 pages. 9.50x6.25x1.75 inches. In Stock.
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Advances in Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR'98 and SPR'98, Sydney, Australia, August 11-13, 1998, Proceedings
Editore: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 1998
ISBN 10: 3540648585 ISBN 13: 9783540648581
Lingua: Inglese
EUR 147,00
Convertire valutaEUR 66,59 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - This book constitutes the joint refereed proceedings of the two IAPR International Workshops on Structural and Syntactic Pattern Recognition and on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SSPR'98 and SPR'98, held in Sydney, Australia, in August 1998.The book presents 107 revised full papers selected from 134 submissions. Also included are six invited presentations. The papers are organized in topical sections on structural matching and grammatical inference, recognition of 2D and 3D objects, document image analysis and recognition, handwritten character recognition, shape representation and image segmentation, learning methodologies, feature selection and extraction, statistical classification techniques, statistical pattern recognition, and rejection in pattern recognition.
