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AutoTestCon '82 - IEEE Internationational Automatic Testing Conference, 12-14 October 1982, Dayton, Ohio
Editore: IEEE; The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc., New York, NY, U.S.A., 1982
Da: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
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