Combinatorial testing cloud computing di tsai wei tek (13 risultati)

- Brossura
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 60,44
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Condizione: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service.

- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 59,45
EUR 14,01 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.

Lingua: Inglese
Editore: Springer 2017-11-03, 2017
Serie: Libro 245 di 322 - SpringerBriefs in Computer Science
- Brossura
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 57,09
EUR 18,12 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Paperback. Condizione: New.

Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2017
Serie: Libro 245 di 322 - SpringerBriefs in Computer Science
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 76,32
EUR 23,40 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Paperback. Condizione: Brand New. 128 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.

- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 106,07
EUR 3,44 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 140.

Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Singapore, 2017
Serie: Libro 245 di 322 - SpringerBriefs in Computer Science
- Brossura
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 58,39
EUR 61,19 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces readers to an advanced combinatorial testing approach and its application in the cloud environment. Based on test algebra and fault location analysis, the proposed combinatorial testing method can support experiments with 250…components (with 2 \* (250) combinations), and can detect the fault location based on the testing results. This function can efficiently decrease the size of candidate testing sets and therefore increase testing efficiency. The proposed solution's effectiveness in the cloud environment is demonstrated using a range of experiments.

Lingua: Inglese
Editore: Springer Singapore, 2017
Serie: Libro 245 di 322 - SpringerBriefs in Computer Science
- Brossura
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 50,40
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Combinatorial Testing in Cloud Computing | Wei-Tek Tsai (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2017 | Springer Singapore | EAN 9789811044809 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

- Brossura
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 119,29
EUR 29,25 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Paperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

- Brossura
- Print on Demand
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 46,22
EUR 20,00 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.

Lingua: Inglese
Editore: SPRINGER NATURE Nov 2017, 2017
Serie: Libro 245 di 322 - SpringerBriefs in Computer Science
- Brossura
- Print on Demand
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 53,49
EUR 23,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces readers to an advanced combinatorial testing approach and its application in the cloud environment. Based on test algebra and fault location analysis, the proposed combinatorial testing method can support exper…iments with 250 components (with 2 \* (250) combinations), and can detect the fault location based on the testing results. This function can efficiently decrease the size of candidate testing sets and therefore increase testing efficiency. The proposed solution's effectiveness in the cloud environment is demonstrated using a range of experiments. 128 pp. Englisch.

Lingua: Inglese
Editore: Springer Singapore, 2017
Serie: Libro 245 di 322 - SpringerBriefs in Computer Science
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 48,74
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Kartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wei-Tek Tsai is currently a professor at both the School of Computing Informatics and Decision Systems Engineering at Arizona State University, USA and the School of Computer Science and Engi…neering at Beihang University, China. He received his PhD a.

- Brossura
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 98,51
EUR 7,60 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. 140.

- Brossura
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 100,99
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 140.