Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
EUR 184,57
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
EUR 187,89
Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
EUR 194,69
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Condizione: New.
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
EUR 208,35
Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
EUR 229,98
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
EUR 229,32
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
EUR 252,71
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
Da: moluna, Greven, Germania
EUR 246,48
Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Über den AutorYogesh Singh Chauhan is a Professor at the Indian Institute of Technology Kanpur. His research interests include the physics, characterization, and modeling of nanoscale semiconductor devices, and RF circuit design.
Editore: Elsevier Science Publishing Co Inc Mai 2024, 2024
ISBN 10: 0323998712 ISBN 13: 9780323998710
Lingua: Inglese
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
EUR 346,10
Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - GaN Transistor Modeling for RF and Power Electronics: Using The ASM-GaN-HEMT Model covers all aspects of characterization and modeling of GaN transistors for both RF and Power electronics applications. Chapters cover an in-depth analysis of the industry standard compact model ASM-HEMT for GaN transistors. The book details the core surface-potential calculations and a variety of real device effects, including trapping, self-heating, field plate effects, and more to replicate realistic device behavior. The authors also include chapters on step-by-step parameter extraction procedures for the ASM-HEMT model and benchmark test results.
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
EUR 186,24
Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 425 pages. 9.00x6.00x0.43 inches. In Stock. This item is printed on demand.