Models hardware testing (21 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 87,85
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 117,13
EUR 14,06 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 148,06
EUR 3,50 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 272.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 148,78
EUR 3,50 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 272.
Altre immaginiLingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 95,25
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault | Hans-Joachim Wunderlich | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400730939 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[…at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 157,99
EUR 14,06 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 112,77
EUR 62,09 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology ar…e introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 114,36
EUR 62,73 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are intro…duced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 165,63
EUR 29,34 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Paperback. Condizione: Like New. Like New. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 191,02
EUR 29,34 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
- Print on Demand
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 86,24
EUR 5,50 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 86,24
EUR 11,00 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.
Lingua: Inglese
Editore: SPRINGER NATURE Dez 2009, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
- Print on Demand
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 106,99
EUR 23,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS tech…nology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands Mrz 2012, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
- Print on Demand
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 106,99
EUR 23,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CM…OS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 272 pp. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 92,27
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduction of model based hardware testingDescribes fault models for nanoscaled CMOS technologyFault simulation, ATPG and diagnosis algorithms for complex fault modelsComprehensive treatment including memory and lo…w power aspects.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 93,00
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Introduction of model based hardware testingDescribes fault models for nanoscaled CMOS technologyFault simulation, ATPG and diagnosis algorithms for complex fault modelsComprehensive treatment including mem…ory and low power aspects.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 155,02
EUR 7,63 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. 272 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 155,21
EUR 7,63 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. 272 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 154,95
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 272.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 154,96
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 272.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, Springer Netherlands Mär 2012, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 22 di 40. Libro 22 di 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Brossura
- Print on Demand
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 106,99
EUR 60,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS t…echnology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 272 pp. Englisch.
