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noncontact atomic force microscopy (80 risultati)
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Hard cover. Condizione: Good. No jacket. Ex library with typical labeling on spine, covers, inside front cover. Clean and unmarked inside, light rubbing on corners, one bump to bottom edge of front cover.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: Rotary Club of Albert Park, Albert Park, VIC, Australia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,32
Spedizione EUR 30,66
Spedito da Australia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: As New. 439 pages. 8vo. As now copy of this book giving a comprehensive overview of the state-of-the-art of this dynamic force microscopy technique.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,64
Spedizione EUR 14,06
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319358766 ISBN 13: 9783319358765
EUR 180,07
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy 03
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2015
ISBN 10: 3319155873 ISBN 13: 9783319155876
EUR 180,07
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 3
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 228,53
Spedizione EUR 14,06
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 228,53
Spedizione EUR 14,06
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 228,53
Spedizione EUR 14,06
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 228,53
Spedizione EUR 14,06
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 3
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 235,48
Spedizione EUR 17,61
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 257,72
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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EUR 184,95
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Noncontact Atomic Force Microscopy | Volume 3 | Seizo Morita (u. a.) | Taschenbuch | xxii | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319358765 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 266,14
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 253,30
Spedizione EUR 14,06
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 500.
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 527.
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EUR 202,85
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Noncontact Atomic Force Microscopy | Volume 2 | Seizo Morita (u. a.) | Taschenbuch | NanoScience and Technology | xviii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783642260704 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 279,24
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 460.
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EUR 219,37
Spedizione EUR 64,93
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic resolution after the publication of volume 2: (1) Pauli repulsive force imaging of molecular structure, (2) Applications of force spectroscopy and force mapping with atomic resolution, (3) Applications of tuning forks, (4) Applications of atomic/molecular manipulation, (5) Applications of magnetic exchange force microscopy, (6) Applications of atomic and molecular imaging in liquids, (7) Applications of combined AFM/STM with atomic resolution, and (8) New technologies in dynamic force microscopy. These results and technologies are now expanding the capacity of the NC-AFM with imaging functions on an atomic scale toward making them characterization and manipulation tools of individual atoms/molecules and nanostructures, with outstanding capability at the level of molecular, atomic, and subatomic resolution. Since the publication of vol. 2 of the book Noncontact Atomic Force Microscopy in 2009 the noncontact atomic force microscope, which can image even insulators with atomic resolution, has achieved remarkable progress. The NC-AFM is now becoming crucial for nanoscience and nanotechnology.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 460.
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EUR 223,11
Spedizione EUR 63,46
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
