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random testing digital circuits di david rene (10 risultati)
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Editore: Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Lingua: Inglese
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 30,14
Convertire valutaEUR 35,36 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. First Edition, First Printing. Hardcover and contents in almost new condition, showing minimal signs of wear. Previous owner's name on FEP. No dust jacket. T. Used.
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 14,22
Convertire valutaEUR 79,94 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: very_good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in very good condition! The cover and any other included accessories are also in very good condition showing some minor use. The spine is straight, there are no rips tears or creases on the cover or the pages.
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Random Testing Of Digital Circuits: Theory And Applications
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,87
Convertire valutaGratis per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 333,67
Convertire valutaEUR 17,37 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Edizione InternazionaleRANDOM TESTING OF DIGITAL CIRCUITS: THEORY AND APPLICATIONS
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 355,89
Convertire valutaGratis per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 366,87
Convertire valutaEUR 17,68 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 395,25
Convertire valutaEUR 17,37 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 395,81
Convertire valutaEUR 17,68 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 417,65
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France. Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practi.
