Scan statistics applications (44 risultati)
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Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
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Condizione: New. In.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 165,99
EUR 17,54 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
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EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
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Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Scan Statistics : Methods and Applications
Glaz, Joseph (EDT); Pozdnyakov, Vladimir (EDT); Wallenstein, Sylvan (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Birkhäuser, 2009
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Scan Statistics and Applications | Joseph Glaz (u. a.) | Taschenbuch | Statistics for Industry and Technology | xxi | Englisch | 2012 | Birkhäuser | EAN 9781461272014 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Basel AG in Springer Science + Business Media, Heidelberger Platz 3, 14197 Berlin, juer…gen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 352.
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. Scan statistics are used in many areas of science and technology to analyze the occurrence of observed clusters of events in time and space. This title covers such topics as: discrete scan statistics; finite Markov chain imbedding; continuous scan statistics; spatial scan statistics; and, applications in DNA seq…uence analysis. Series: Statistics for Industry and Technology. Num Pages: 345 pages, biography. BIC Classification: PBT; TGPQ; TGPR. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 254 x 178 x 20. Weight in Grams: 827. . 1999. Hardback. . . . .
Lingua: Inglese
Editore: Birkh?user, 2009
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 9,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. 2009. Hardcover. . . . . .
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 168,73
EUR 63,32 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The study of scan statistics and their applications to many different scientific and engineering problems have received considerable attention in the literature recently. In addition to challenging theoretical problems, the area of scan statis tic…s has also found exciting applications in diverse disciplines such as archaeol ogy, astronomy, epidemiology, geography, material science, molecular biology, reconnaissance, reliability and quality control, sociology, and telecommunica tion. This will be clearly evident when one goes through this volume. In this volume, we have brought together a collection of experts working in this area of research in order to review some of the developments that have taken place over the years and also to present their new works and point out some open problems. With this in mind, we selected authors for this volume with some having theoretical interests and others being primarily concerned with applications of scan statistics. Our sincere hope is that this volume will thus provide a comprehensive survey of all the developments in this area of research and hence will serve as a valuable source as well as reference for theoreticians and applied researchers. Graduate students interested in this area will find this volume to be particularly useful as it points out many open challenging problems that they could pursue. This volume will also be appropriate for teaching a graduate-level special course on this topic.
