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Selected Reprints on Logic Design for Testability
Editore: Institute of Electrical & Electronics Engineers, 1984
ISBN 10: 0818605731 ISBN 13: 9780818605734
Lingua: Inglese
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 315 pp., softcover, ex library, covers torn at spine & rubbed at edges, marginalia & underlining in pencil, else good. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Selected Reprints on Logic Design for Testability (IEEE TUTORIAL COURSE)
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
