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terahertz channel measurement modeling di jianjun peian (6 risultati)
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Valutazione venditore
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Terahertz Channel Measurement, Modeling, and Security Properties: Fundamentals, Techniques, and Applications
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 207,82
Convertire valutaEUR 7,49 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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Terahertz Channel Measurement, Modeling, and Security Properties: Fundamentals, Techniques, and Applications
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 223,90
Convertire valutaEUR 3,45 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Terahertz Channel Measurement, Modeling, and Security Properties: Fundamentals, Techniques, and Applications
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 218,62
Convertire valutaEUR 13,81 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Terahertz Channel Measurement, Modeling, and Security Properties: Fundamentals, Techniques, and Applications
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 229,37
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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Terahertz Channel Measurement, Modeling and Security Properties: Fundamentals, Techniques and Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 297,94
Convertire valutaEUR 28,82 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 664 pages. 10.00x7.00x10.00 inches. In Stock.
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EUR 179,01
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Jianjun Ma is a professor at Beijing Institute of Technology. He holds a Ph.D. in Applied Physics from the New Jersey Institute of Technology and Rutgers University-Newark, with postdoctoral experience at Brown University. His research interests s.
