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trace based post silicon validation vlsi di liu xiao (20 risultati)
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 70,22
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
EUR 96,06
Convertire valutaEUR 7,65 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
EUR 96,06
Convertire valutaEUR 7,65 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,88
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,88
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,17
Convertire valutaEUR 13,86 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,78
Convertire valutaEUR 13,86 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 126,90
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 127,85
Convertire valutaEUR 3,40 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 126.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Editore: Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Lingua: Inglese
EUR 109,94
Convertire valutaEUR 61,01 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.
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Trace-based Post-silicon Validation for Vlsi Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 148,37
Convertire valutaEUR 28,92 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 124 pages. 9.25x6.10x0.30 inches. In Stock.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 149,85
Convertire valutaEUR 28,92 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 2013 edition. 136 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 252)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 163,26
Convertire valutaEUR 28,92 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Editore: Berlin Springer International Publishing Springer Aug 2016, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Lingua: Inglese
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 23,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices. 108 pp. Englisch.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,31
Convertire valutaEUR 7,52 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,12
Convertire valutaEUR 7,52 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 126 59 Illus. (38 Col.).
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Editore: Springer International Publishing, 2013
ISBN 10: 3319005324 ISBN 13: 9783319005324
Lingua: Inglese
EUR 92,27
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key c.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Editore: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Lingua: Inglese
EUR 93,00
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key c.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering (252))
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 136,43
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 123.
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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 137,25
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 126.
