DIRECT MEASUREMENT OF IMPURITY DISTRIBUTION IN SEMICONDUCTING MATERIALS

Gupta, Dinesh C & Chan, Joseph Y

Editore: J Applied Physics, 1972

Riguardo questo articolo

Vol 43, No 2, pp. 515-522, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, VG.

Codice articolo 084119

Dati bibliografici

• Titolo: DIRECT MEASUREMENT OF IMPURITY DISTRIBUTION IN SEMICONDUCTING MATERIALS
• Editore: J Applied Physics
• Data di pubblicazione: 1972
• Lingua: Inglese
• Rilegatura: Pamphlet
• Condizione: Very Good
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