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Dati bibliografici

Titolo

1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France

Editore

IEEE Computer Society

Data di pubblicazione

1997

Lingua

Inglese

ISBN 10

0818681683

ISBN 13

9780818681684

Rilegatura

paperback

Condizione

Good

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Descrizione articolo

Riassunto

Papers from the 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerant in VLSI Systems.

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

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