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1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France. Proceedings
Lingua: Inglese
Editore: Institute of Electrical & Electronics Engineers, New York
ISBN 10: 0818681683 ISBN 13: 9780818681684
Da: Alien Bindings, BALTIMORE, MD, U.S.A.
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Softcover. Condizione: Very Good. No Jacket. First Edition. Ex research library book. The covers look great. The binding is tight. The interior pages are clean and unmarked. Electronic delivery tracking will be issued free of charge.
