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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability - Rilegato

 
9780123705976: VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability

Sinossi

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

· Most up-to-date coverage of design for testability.
· Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books.
· Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures.
· Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available.
· Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.

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Informazioni sugli autori

Laung-Terng Wang, Ph.D., is founder, chairman, and chief executive officer of SynTest Technologies, CA. He received his EE Ph.D. degree from Stanford University. A Fellow of the IEEE, he holds 18 U.S. Patents and 12 European Patents, and has co-authored/co-edited two internationally used DFT textbooks- VLSI Test Principles and Architectures (2006) and System-on-Chip Test Architectures (2007).

Kwang-Ting (Tim) Cheng, Ph.D., is a Professor and Chair of the Electrical and Computer Engineering Department at the University of California, Berkeley. A Fellow of the IEEE, he has published over 300 technical papers, co-authored three books, and holds 11 U.S. Patents.

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9781493300860: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

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ISBN 10:  1493300865 ISBN 13:  9781493300860
Casa editrice: Morgan Kaufmann, 2014
Brossura

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Wang, Laung-Terng/Wu, Cheng-Wen/Wen, Xiaoqing
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1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch. Codice articolo 6394VB

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Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing; Abdel-Hafez, Khader S. [Contributor]; Bhattacharya, Soumendu [Contributor]; Chatterjee, Abhijit [Contributor]; Chen, Xinghao [Contributor]; Cheng, Kwang-Ting (Tim) [Contributor]; Eklow, William [Contributor]; Hsiao, Michael S. [Contributor]; Huang, Jiun-Lang [Contributor]; Huang, Shi-Yu [Contributor]; Jone, Wen-Ben [Contributor]; Kapur, Rohit [Contributor]; Keller, Brion [Contributor]; Lee, Kuen-Jong [Contributor]; Li, James C.-M. [Contributor]; Li, Mike Peng [Contributor]; Li, Xiaowei [Contributor]; Mak, T.M. [Contributor]; Min, Yinghua [Contributor]; Nadeau-Dostie, Benoit [Contributor]; Nourani, Mehrdad [Contributor]; Rajski, Janusz [Contributor]; Stroud, Charles [Contributor]; Volkerink, Erik H. [Contributor]; Walker, Duncan M. (Hank) [Contributor]; Wu, Shianling [Contributor]; Touba, Nur A. [Contributor];
Editore: Morgan Kaufmann, 2006
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