Wang laung terng (29 risultati)

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Condizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.

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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
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Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
Wang, Laung-terng (Editor)/ Chang, Yao-Wen (Editor)/ Cheng, Kwang-Ting (Editor)
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Electronic Design Automation
Cheng Kwang-Ting (Tim) Chang Yao-Wen Wang Laung-Terng Chang Yao Wen Wang Laung Terng
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Condizione: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.

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