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wang laung terng (25 risultati)
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- Spedizione gratuita in U.S.A. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Paese del venditore
Valutazione venditore
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: acceptable. Fairly worn, but readable and intact. If applicable: Dust jacket, disc or access code may not be included.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Like New. hardcover. Page block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without markings of any kind. Supporting Bay Area Friends of the Library since 2010. Well packaged and promptly shipped.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Da: diakonia secondhand, München, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 40,66
Spedizione EUR 35,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume . (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann 2007-12-28, 2007
ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,05
Spedizione EUR 17,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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System-on-Chip Test Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 76,83
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxvi + 856 Illus.
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 68,10
Spedizione EUR 17,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 81,28
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777 Illus.
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System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,89
Spedizione EUR 23,12
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. illustrated edition. 896 pages. 9.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
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Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann Publishers In 2008-12-05, 2008
ISBN 10: 0123743648 ISBN 13: 9780123743640
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 82,25
Spedizione EUR 17,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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Electronic Design Automation
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 96,84
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxv + 934 Illus.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 80,38
Spedizione EUR 23,12
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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System-on-Chip Test Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxxvi + 856.
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System-on-Chip Test Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 93,52
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxvi + 856.
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Hardcover. Condizione: new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxx + 777.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 99,24
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxx + 777.
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Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test (Systems on Silicon)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,43
Spedizione EUR 23,12
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 972 pages. 9.40x7.40x1.80 inches. In Stock.
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Electronic Design Automation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxxv + 934.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Electronic Design Automation
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 116,03
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxv + 934.
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,75
Spedizione EUR 23,12
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 234,54
Spedizione EUR 28,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 68,50
Spedizione EUR 13,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume .
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 70,21
Spedizione EUR 20,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 88,99
Spedizione EUR 20,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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