System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)

Lingua: inglese

Editore: Morgan Kaufmann, 2007

012373973X / 9780123739735

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Titolo
System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)
Autore
Wang, Laung-Terng
Editore
Morgan Kaufmann
Anno di pubblicazione
2007
Condizione
new
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
012373973X
ISBN 13
9780123739735

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