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9780123739735 - System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume . di Touba, Nur A. (7 risultati)
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume . (Systems on Silicon)
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann 2007-12-28, 2007
ISBN 10: 012373973X ISBN 13: 9780123739735
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 63,86
Spedizione EUR 17,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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System-on-Chip Test Architectures
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 75,85
Spedizione EUR 7,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,67
Spedizione EUR 23,05
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. illustrated edition. 896 pages. 9.50x7.50x1.50 inches. In Stock.
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System-on-Chip Test Architectures
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. xxxvi + 856.
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System-on-Chip Test Architectures
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 93,52
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxxvi + 856.
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Hardcover. Condizione: new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume .
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 70,21
Spedizione EUR 20,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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