VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability - Brossura

 
9781493300860: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Brossura
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Casa editrice: Morgan Kaufmann, 2014

Sinossi

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

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Informazioni sull?autore

Laung-Terng Wang, Ph.D., is founder, chairman, and chief executive officer of SynTest Technologies, CA. He received his EE Ph.D. degree from Stanford University. A Fellow of the IEEE, he holds 18 U.S. Patents and 12 European Patents, and has co-authored/co-edited two internationally used DFT textbooks- VLSI Test Principles and Architectures (2006) and System-on-Chip Test Architectures (2007).

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Editore
Morgan Kaufmann
Data di pubblicazione
2014
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1493300865
ISBN 13 
9781493300860
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
812
Redattore
Wang Laung-Terng
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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