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9781493300860 - VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (2 risultati)
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VLSI Test Principles and Architectures
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Lingua: Inglese
Editore: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 234,49
Spedizione EUR 28,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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