Defect Analysis in Electron Microscopy - Rilegato

Loretto, Michael; Smallman, R. E.

 
9780412137600: Defect Analysis in Electron Microscopy
Rilegato
ISBN 10: 0412137607 ISBN 13: 9780412137600
Casa editrice: Chapman and Hall, 1976
Editore
Chapman and Hall
Data di pubblicazione
1976
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0412137607
ISBN 13 
9780412137600
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
144
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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