Defect Analysis in Electron Microscopy - Brossura

Loretto, Michael ; Smallman, R. E.

9780412137709: Defect Analysis in Electron Microscopy

Brossura

ISBN 10: 0412137704 ISBN 13: 9780412137709

Casa editrice: Chapman and Hall, 1976

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Editore: Chapman and Hall
Data di pubblicazione: 1976
Lingua: Inglese
ISBN 10: 0412137704
ISBN 13: 9780412137709
Rilegatura: Copertina flessibile
Numero di pagine: 144
Contatto del produttore: non disponibile
Persona responsabile: non disponibile

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Defect analysis in electron microscopy

M. H Loretto

Editore: Wiley : distributed by Halstead Press, 1975

ISBN 10: 0412137704 ISBN 13: 9780412137709

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