Defect Analysis in Electron Microscopy - Brossura

Loretto, Michael; Smallman, R. E.

 
9780412137709: Defect Analysis in Electron Microscopy
Brossura
ISBN 10: 0412137704 ISBN 13: 9780412137709
Casa editrice: Chapman and Hall, 1976
Editore
Chapman and Hall
Data di pubblicazione
1976
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0412137704
ISBN 13 
9780412137709
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
144
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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