Articoli correlati a Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 225

Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 225 - Rilegato

 
9780443193262: Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 225

Sinossi

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 226 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electron sources: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.

  • Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors
  • Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Informazioni sugli autori

Peter Hawkes obtained his M.A. and Ph.D (and later, Sc.D.) from the University of Cambridge, where he subsequently held Fellowships of Peterhouse and of Churchill College. From 1959 – 1975, he worked in the electron microscope section of the Cavendish Laboratory in Cambridge, after which he joined the CNRS Laboratory of Electron Optics in Toulouse, of which he was Director in 1987. He was Founder-President of the European Microscopy Society and is a Fellow of the Microscopy and Optical Societies of America. He is a member of the editorial boards of several microscopy journals and serial editor of Advances in Electron Optics.

Dr Martin Hÿtch, serial editor for the book series “Advances in Imaging and Electron Physics (AIEP)”, is a senior scientist at the French National Centre for Research (CNRS) in Toulouse. He moved to France after receiving his PhD from the University of Cambridge in 1991 on “Quantitative high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM)”, joining the CNRS in Paris as permanent staff member in 1995. His research focuses on the development of quantitative electron microscopy techniques for materials science applications. He is notably the inventor of Geometric Phase Analysis (GPA) and Dark-Field Electron Holography (DFEH), two techniques for the measurement of strain at the nanoscale. Since moving to the CEMES-CNRS in Toulouse in 2004, he has been working on aberration-corrected HRTEM and electron holography for the study of electronic devices, nanocrystals and ferroelectrics. He was laureate of the prestigious European Microscopy Award for Physical Sciences of the European Microscopy Society in 2008. To date he has published 130 papers in international journals, filed 6 patents and has given over 70 invited talks at international conferences and workshops.

Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Compra usato

Condizioni: come nuovo
Unread book in perfect condition...
Visualizza questo articolo

EUR 17,32 per la spedizione da Regno Unito a Italia

Destinazione, tempi e costi

Risultati della ricerca per Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 225

Foto dell'editore

Hawkes
Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Nuovo Rilegato
Print on Demand

Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: new. Questo è un articolo print on demand. Codice articolo HJ7HQAUQE0

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 169,63
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 23,55
In Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Hawkes, Peter W./ Hÿtch, Martin
Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Nuovo Rilegato
Print on Demand

Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Hardcover. Condizione: Brand New. 232 pages. 9.00x6.00x0.69 inches. In Stock. This item is printed on demand. Codice articolo __0443193266

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 221,87
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 11,55
Da: Regno Unito a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello

Foto dell'editore

Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Nuovo Rilegato

Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. In. Codice articolo ria9780443193262_new

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 231,11
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 10,38
Da: Regno Unito a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Hawkes, Peter W. (EDT); Hytch, Martin (EDT)
Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Nuovo Rilegato

Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. Codice articolo 45547154-n

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 230,17
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 17,32
Da: Regno Unito a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Hawkes, Peter W. (EDT); Hytch, Martin (EDT)
Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Nuovo Rilegato

Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: New. Codice articolo 45547154-n

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 238,09
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 17,17
Da: U.S.A. a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Hawkes, Peter W. (EDT); Hytch, Martin (EDT)
Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Antico o usato Rilegato

Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: As New. Unread book in perfect condition. Codice articolo 45547154

Contatta il venditore

Compra usato

EUR 263,40
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 17,32
Da: Regno Unito a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Hawkes, Peter W. (EDT); Hytch, Martin (EDT)
Editore: Academic Press, 2023
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Antico o usato Rilegato

Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Condizione: As New. Unread book in perfect condition. Codice articolo 45547154

Contatta il venditore

Compra usato

EUR 263,83
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 17,17
Da: U.S.A. a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungi al carrello

Immagini fornite dal venditore

Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow Hawkes, member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial
ISBN 10: 0443193266 ISBN 13: 9780443193262
Nuovo Rilegato

Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Buch. Condizione: Neu. Neuware - Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 226 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electron sources: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains. Codice articolo 9780443193262

Contatta il venditore

Compra nuovo

EUR 313,17
Convertire valuta
Spese di spedizione: EUR 14,99
Da: Germania a: Italia
Destinazione, tempi e costi

Quantità: 2 disponibili

Aggiungi al carrello