9780443193262 - advances in imaging and electron physics: volume 225 (11 risultati)
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 244,10
EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 229,52
EUR 17,46 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 239,04
EUR 13,94 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 266,98
EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 265,60
EUR 17,46 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno UnitoRarewaves.com USA
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 288,72
Spedizione gratuitaSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Hardback. Condizione: New. Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 226 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electron sour…ces: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.
- Rilegato
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 274,69
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics Redaktion: Peter W. HawkesPeter H.
- Rilegato
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno UnitoRarewaves.com UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 282,40
EUR 75,65 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Hardback. Condizione: New. Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 226 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electron sour…ces: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.
- Rilegato
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 387,00
EUR 62,77 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Buch. Condizione: Neu. Neuware - Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 226 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electro…n sources: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 169,63
EUR 6,80 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 223,56
EUR 14,55 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. 232 pages. 9.00x6.00x0.69 inches. In Stock. This item is printed on demand.
