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Sinossi
This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.
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Product Description
Book by Schroder Dieter K
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Risultati della ricerca per Semiconductor Material and Device Characterization
Foto dell'editore
Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good. Codice articolo 7648326-75
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Codice articolo G0471511048I5N00
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fair. No Jacket. Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Codice articolo G0471511048I5N00
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. Missing dust jacket; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Codice articolo G0471511048I4N01
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Codice articolo G0471511048I3N00
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley-Interscience, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fair. No Jacket. Missing dust jacket; Readable copy. Pages may have considerable notes/highlighting. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Codice articolo G0471511048I5N01
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Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: Better World Books Ltd, Dunfermline, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good. Codice articolo 7648326-75
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Semiconductor Material and Device Characterization; - 1st Edition/1st Printing
Editore:
John Wiley & Sons, Inc., New York, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
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Prima edizione
Da: Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, U.S.A.
Valutazione del venditore 2 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Near Fine. Condizione sovraccoperta: Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and industrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry; 8vo. Codice articolo 42841
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EUR 36,67
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Foto dell'editore
Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Near Fine. Condizione sovraccoperta: Near Fine. hardback book and dust jacket in near fine condition. Codice articolo 121490
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Foto dell'editore
Semiconductor Material and Device Characterization
Editore:
John Wiley & Sons Inc, NY, 1990
ISBN 10: 0471511048
ISBN 13: 9780471511045
Antico o usato
Rilegato
Da: Feldman's Books, Menlo Park, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Fine. Codice articolo 00031623
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EUR 45,84
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