Isbn: 9780471511045 - semiconductor material and device characterization (11 risultati)
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Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Lingua: Inglese
Editore: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1990
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Da: Bingo Books 2, Vancouver, WA, U.S.A.Bingo Books 2
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- Prima edizione
Da: Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, U.S.A.Books Tell You Why - ABAA/ILAB
Contatta il venditoreVenditore con 2 stelleCondizione: Usato - Quasi ottimo
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Hardcover. Condizione: Near Fine. Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and industrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry; 8vo.…
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, GermaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Hardcover. Condizione: gut. 1990. Semiconductor Material and Device Characterization In englischer Sprache. pages.
