Semiconductor Material and Device Characterization. Questo articolo non è disponibile.
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Lingua: inglese
Editore: Wiley-Interscience, 1990
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Codice articolo G0471511048I5N00
- Titolo
- Semiconductor Material and Device Characterization
- Autore
- Dieter K. Schroder
- Editore
- Wiley-Interscience
- Anno di pubblicazione
- 1990
- Condizione
- Fair
- Sovraccoperta
- No Jacket
- Rilegatura
- Hardcover
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 0471511048
- ISBN 13
- 9780471511045
- Peso dell'articolo
- 2,15 libbre
This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.
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Sinossi
Book by Schroder Dieter K
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