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Sinossi
The most comprehensive and wide ranging book on the testing of semiconductor devices and systems.
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Informazioni sugli autori
Niraj Jha is Professor of Electrical Engineering at Princeton University and head of the Center of Embedded System-on-a-Chip Design, where his current research is focussed on the synthesis and testing of these devices. He is a fellow of IEEE, associate editor of IEEE Transactions on VLSI Systems and The Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) and a recipient of the AT&T Foundation award and the NEC preceptorship award for research excellence.
Sandeep Gupta is an Associate Professor in the Department of Electrical Engineering at the University of Southern California, USA. He is Co-Director of the M.S. Program in VLSI Design, with research interests in the area of VLSI testing and design. He is a member of the IEEE.
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Testing of Digital Systems
Editore:
Cambridge University Press, Cambridge, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
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Prima edizione
Da: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Regno Unito
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Hard Cover. Condizione: Good. No Jacket. First Edition. From an academic library with the usual stamps etc. This item is heavy and will attract postal surcharges. Codice articolo 010999
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Testing of Digital Systems
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Cambridge University Press, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
Antico o usato
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Da: Anybook.com, Lincoln, Regno Unito
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,2250grams, ISBN:9780521773560. Codice articolo 4847240
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Cambridge University Press, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,2250grams, ISBN:9780521773560. Codice articolo 4847241
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Cambridge University Press, 2003
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Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.
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Condizione: Good. 1st Edition. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good. Codice articolo GRP64429446
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Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.
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Condizione: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc. Codice articolo 00101948212
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Da: brandnewtexts4sale, Houston, TX, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: New. 1st Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT Edition / Mint condition / Never been read / ISBN-10: 0521773563 / Shipped out in one business day with free tracking. Codice articolo 9780521773560
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Condizione: New. The most comprehensive and wide ranging book on the testing of semiconductor devices and systems. Num Pages: 1016 pages, 90 tables. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 247 x 174 x 49. Weight in Grams: 2185. . 2003. hardcover. . . . . Codice articolo V9780521773560
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Testing of Digital Systems
Print on DemandDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 1016 pages. 10.20x7.25x1.75 inches. In Stock. This item is printed on demand. Codice articolo __0521773563
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Testing of Digital Systems (Hardcover)
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Cambridge University Press, Cambridge, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
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Da: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
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Hardcover. Condizione: new. Hardcover. Device testing represents the single largest manufacturing expense in the semiconductor industry, costing over USD40 billion a year. The most comprehensive and wide ranging book of its kind, Testing of Digital Systems covers everything you need to know about this vitally important subject. Starting right from the basics, the authors take the reader through automatic test pattern generation, design for testability and built-in self-test of digital circuits before moving on to more advanced topics such as IDDQ testing, functional testing, delay fault testing, memory testing, and fault diagnosis. The book includes detailed treatment of the latest techniques including test generation for various fault models, discussion of testing techniques at different levels of integrated circuit hierarchy and a chapter on system-on-a-chip test synthesis. Written for students and engineers, it is both an excellent senior/graduate level textbook and a valuable reference. A book on the testing of semiconductor devices and systems. This item is printed on demand. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability. Codice articolo 9780521773560
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