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Sinossi
Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
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Informazioni sull?autore
ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Editore:
Wiley & Sons, Incorporated, John, 2002
ISBN 10: 0780310004
ISBN 13: 9780780310001
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Da: Better World Books Ltd, Dunfermline, Regno Unito
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: PAPER CAVALIER US, Brooklyn, NY, U.S.A.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.4. Codice articolo G0780310004I3N00
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: Anybook.com, Lincoln, Regno Unito
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Editore:
Wiley & Sons, Incorporated, John, 2002
ISBN 10: 0780310004
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Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
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Condizione: Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in clean, average condition without any missing pages. Codice articolo GRP29658096
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Editore:
John Wiley & Sons 24.09.2002., 2002
ISBN 10: 0780310004
ISBN 13: 9780780310001
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Da: Modernes Antiquariat an der Kyll, Lissendorf, Germania
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Condizione: Sehr gut. Auflage: 1. 480 Seiten kleine Lagerspuren am Buch, Inhalt einwandfrei und ungelesen 449932 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1030 25,7 x 18,0 x 3,3 cm, Gebundene Ausgabe. Codice articolo 179947
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Editore:
Wiley-IEEE Pressieee Press, New York, NY, 1997
ISBN 10: 0780310004
ISBN 13: 9780780310001
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Da: Book Bear, West Brookfield, MA, U.S.A.
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Cloth. Condizione: Near Fine to Fine. 462 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text is free of markings. No ownership markings. NOTE: This copy has light grey covers with dark blue type face. 1997 printing. Codice articolo 020221
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, U.S.A.
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Condizione: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing. Codice articolo BSM.LCZ6
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: Toscana Books, AUSTIN, TX, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks. Codice articolo Scanned0780310004
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