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9780780310001 - Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability di Sharma, Ashok K.; Rajsuman, Rochit (33 risultati)
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Lingua: Inglese
Editore: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Semiconductor Memories Technol
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Acceptable. Item in acceptable condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Semiconductor Memories Technol
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Semiconductor Memories Technol
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Phoenix, Phoenix, AZ, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Reno, Reno, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. Missing dust jacket; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: As New. No Jacket. Pages are clean and are not marred by notes or folds of any kind. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. Missing dust jacket; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: BookResQ., West Valley City, UT, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: Good. Ex-library book with typical stickers and stampings. Priority Mail is available on this item. No international shipping.
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EUR 18,17
Spedizione EUR 15,69
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1150grams, ISBN:9780780310001.
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EUR 33,27
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 480 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Lingua: Inglese
Editore: John Wiley & Sons 24.09.2002., 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Da: Vulkaneifel Bücher, Birgel, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 24,99
Spedizione EUR 124,40
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Auflage: 1. 480 Seiten kleine Lagerspuren am Buch, Inhalt einwandfrei und ungelesen Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1030 25,7 x 18,0 x 3,3 cm, Gebundene Ausgabe.
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Semiconductor Memories
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 189,81
Spedizione EUR 7,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 201,03
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 189,50
Spedizione EUR 11,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 189,80
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 203,65
Spedizione EUR 13,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 227,82
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 227,25
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Semiconductor Memories
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 258,57
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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EUR 223,49
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specif.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 297,64
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.
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Semiconductor Memories
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 480.
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Edizione InternazionaleSEMICONDUCTOR MEMORIES TECHNOLOGY TESTING AND RELIABILITY (HB 1997)
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 320,60
Spedizione EUR 6,91
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New ! Fast Delivery "International Edition " and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 4-6 Working days .and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Semiconductor Memories
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 323,54
Spedizione EUR 9,00
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 277,57
Spedizione EUR 65,43
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.\* Memory cell structures and fabrication technologies.\* Application-specific memories and architectures.\* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.\* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.\* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
