Sinossi
Since only half the chip area would have redundancy, I was concerned that the increase in yield would not outweigh the increased costs of testing and redundancy programming. I wanted a simulator that would allow me to evaluate the yield of arbitrary redundant layouts, hence I termed such a simulator a layout or yield simulator.
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Contenuti
1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.
Product Description
Book by Walker DM
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Altre edizioni note dello stesso titolo
Risultati della ricerca per Yield Simulation for Integrated Circuits: 33
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Yield Simulation for Integrated Circuits (Kluwer international series)
Editore:
Kluwer Academic Publishers, 1987
ISBN 10: 0898382440
ISBN 13: 9780898382440
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4°, Gebundene Ausgabe. Condizione: Sehr gut. 221 Seiten Ausgetragenes Bibliotheksexemplar, Einband leicht lagerspurig, Papier in sehr gutem Zustand. B05-03-05C Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 509. Codice articolo 1873588
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Yield Simulation for Integrated Circuits (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science)
Editore:
Kluwer Academic Publishers, Lancaster, United Kingdom, 1987
ISBN 10: 0898382440
ISBN 13: 9780898382440
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Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
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Hardcover. Condizione: Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. First Edition. numerous figures, softening to head of spine, scrape on the bottom of spine, front and back cover, light bump to top corners of cover, FEP is torn off, text and illustrations clean and tight. Ex-Library. Codice articolo 098038
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Print on DemandDa: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In the summer of 1981 I was asked to consider the possibility of manufacturing a 600,000 transistor microprocessor in 1985. It was clear that the technology would only be capable of manufacturing 100,000-200,000 transistor chips with acceptable yields. The control store ROM occupied approximately half of the chip area, so I considered adding spare rows and columns to increase ROM yield. Laser-programmed polysilicon fuses would be used to switch between good and bad circuits. Since only half the chip area would have redundancy, I was concerned that the increase in yield would not outweigh the increased costs of testing and redundancy programming. The fabrication technology did not yet exist, so I was unable to experimentally verify the benefits of redundancy. When the technology did become available, it would be too late in the development schedule to spend time running test chips. The yield analysis had to be done analytically or by simulation. Analytic yield analysis techniques did not offer sufficient accuracy for dealing with complex structures. The simulation techniques then available were very labor-intensive and seemed more suitable for redundant memories and other very regular structures [Stapper 80J. I wanted a simulator that would allow me to evaluate the yield of arbitrary redundant layouts, hence I termed such a simulator a layout or yield simulator. Since I was unable to convince anyone to build such a simulator for me, I embarked on the research myself. 226 pp. Englisch. Codice articolo 9780898382440
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