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Sinossi
This book introduces design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).
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Contenuti
Introduction and Motivation.- Radio Systems Overview: Architecture, Performance and Built-in-Test.- Efficient Testing for RF SoCs.- RF Built-in-Self-Test.- RF Built-in-Self-Calibration.- Conclusions.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Da: Buchpark, Trebbin, Germania
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 108 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Codice articolo 11245597/12
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Editore:
Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441995471
ISBN 13: 9781441995476
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Kartoniert / Broschiert
Da: moluna, Greven, Germania
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Kartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the out. Codice articolo 4176716
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Bou-Sleiman:Built-in-Self-Test (eng)
Print on DemandDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
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Springer New York Sep 2011, 2011
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Taschenbuch
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 108 pp. Englisch. Codice articolo 9781441995476
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs (SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Editore:
Springer New York, Springer US Sep 2011, 2011
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ISBN 13: 9781441995476
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Taschenbuch
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 108 pp. Englisch. Codice articolo 9781441995476
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Editore:
Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441995471
ISBN 13: 9781441995476
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Taschenbuch
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. Codice articolo 9781441995476
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs (SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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