9781441995476 - built-in-self-test and digital self-calibration for rf socs di bou-sleiman, sleiman (13 risultati)

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Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are… used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.

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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are… used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.

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Editore: Springer New York, Springer Sep 2011, 2011
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). Th…ese circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 108 pp. Englisch.

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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to rend…er mixed-mode designs robust from the out.

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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These…circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 108 pp. Englisch.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs | Sleiman Bou-Sleiman (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering | xvii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441995476 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121…Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.