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9781441995476 - Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs di Bou-Sleiman, Sleiman (13 risultati)
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,83
Spedizione EUR 2,31
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 59,53
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs (SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering)
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 65,99
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 63,63
Spedizione EUR 18,22
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,88
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Built-In-Self-Test and Built-In-Self Calibration
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 65,98
Spedizione EUR 17,65
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
EUR 58,39
Spedizione EUR 60,89
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringEUR 43,16
Spedizione EUR 105,00
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Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. .
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Bou-Sleiman:Built-in-Self-Test (eng)
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 46,22
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 108 pp. Englisch.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringEUR 48,37
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the out.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441995471 ISBN 13: 9781441995476
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 108 pp. Englisch.
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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs
Libro 7 di 209: SpringerBriefs in Electrical and Computer EngineeringEUR 50,25
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs | Sleiman Bou-Sleiman (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering | xvii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441995476 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
