9781441995476 - built-in-self-test and digital self-calibration for rf socs di bou-sleiman, sleiman (13 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 50,83
EUR 2,31 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 59,53
EUR 2,31 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 65,99
EUR 14,10 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2011-09, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 63,63
EUR 18,22 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
PF. Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 65,98
EUR 17,65 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 64,88
EUR 17,65 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer US, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 58,39
EUR 60,89 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are… used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Ottimo
EUR 43,16
EUR 105,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are… used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
- Print on Demand
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 46,22
EUR 4,00 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer Sep 2011, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
- Print on Demand
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 53,49
EUR 23,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). Th…ese circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 108 pp. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 48,37
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to rend…er mixed-mode designs robust from the out.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Sep 2011, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
- Print on Demand
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 53,49
EUR 60,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These…circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 108 pp. Englisch.
Altre immaginiLingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
Serie: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering, Libro 7 di 209. Libro 7 di 209 - SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- Brossura
- Print on Demand
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 50,25
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs | Sleiman Bou-Sleiman (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering | xvii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441995476 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121…Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
