High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Brossura

Eggersglüß, Stephan; Drechsler, Rolf

 
9781441999771: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Brossura
ISBN 10: 1441999779 ISBN 13: 9781441999771
Casa editrice: Springer, 2012

Al momento non sono disponibili copie per questo codice ISBN.

Sinossi

Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2012
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1441999779
ISBN 13 
9781441999771
Rilegatura
Taschenbuch
Numero di pagine
212
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Germania

Altre edizioni note dello stesso titolo

9781441999757: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Edizione in evidenza

ISBN 10:  1441999752 ISBN 13:  9781441999757
Casa editrice: Springer Nature, 2012
Rilegato