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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits - Brossura

Sachdev, Manoj

 
9781475749274: Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits
Brossura
ISBN 10: 1475749279 ISBN 13: 9781475749274
Casa editrice: Springer, 2013

Al momento non sono disponibili copie per questo codice ISBN.

Sinossi

Foreword. Prface. 1. Introduction. 2. Digital CMOS Fault Modeling and Inductive Fault Analysis. 3. Defects in Logic Circuits and Their Test Implications. 4. Testing Defects in Sequential Circuits. 5. Defect Oriented RAM Testing and Current Testable RAMs. 6. Testing Defects in Programmable Logic Circuits. 7. Defect Oriented Analog Testing. 8. Conclusion. Index.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1475749279
ISBN 13 
9781475749274
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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