Advanced Laser Diode Reliability (Durability, Robustness and Reliability of Photonic Devices)

Vanzi, Massimo; Bechou, Laurent; Fukuda, Mitsuo; Mura, Giovanna

ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Editore: ISTE Press - Elsevier, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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