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Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 258 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
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Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Germania
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.