Massimo vanzi (13 risultati)
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Advanced Laser Diode Reliability (Durability, Robustness and Reliability of Photonic Devices)
Vanzi, Massimo; Bechou, Laurent; Fukuda, Mitsuo; Mura, Giovanna
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Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Advanced Laser Diode Reliability
Bechou, Laurent/ Fukuda, Mitsuo/ Mura, Giovanna/ Vanzi, Massimo (Editor)
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Hardcover. Condizione: Brand New. 258 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Editore: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it revie…ws the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction. Englisch.
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Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno UnitoTHE SAINT BOOKSTORE
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Editore: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
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Buch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews th…e current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.
