Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Echlin, Patrick, Fiori, C.E., Goldstein, Joseph, Joy, David

ISBN 10: 0306421402 ISBN 13: 9780306421402
Editore: Plenum Press, 1986
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

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