Advanced Test Methods for Srams : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud

ISBN 10: 1489983147 ISBN 13: 9781489983145
Editore: Springer, 2014
Lingua: Inglese
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