Dilillo luigi (15 risultati)

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 98,02
EUR 13,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 116,49
EUR 13,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.

Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 116,48
EUR 17,51 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 131,85
EUR 2,31 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 146,71
EUR 3,49 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 188.

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 149,94
EUR 3,49 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 188.

Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 174,33
EUR 17,51 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto, Dilillo, Luigi, Girard, Patrick, Pravossoudo
- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 164,73
EUR 29,18 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Like New. Like New. book.

Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 196,22
EUR 2,31 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Advanced Test Methods for SRAMs
Alberto Bosio|Luigi Dilillo|Patrick Girard|Serge Pravossoudovitch|Arnaud Virazel
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 92,39
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First book to present complete, state-of-the-art coverage of dynamic fault memory testingPresents content using a bottom-up approach, from the electrical causes of malfunction up to the generation of smart test strat…egiesIncludes case stu.

Advanced Test Methods for SRAMs
Alberto Bosio|Luigi Dilillo|Patrick Girard|Serge Pravossoudovitch|Arnaud Virazel
- Rilegato
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 93,00
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First book to present complete, state-of-the-art coverage of dynamic fault memory testingPresents content using a bottom-up approach, from the electrical causes of malfunction up to the generation of smart…test strategiesIncludes case stu.

- Rilegato
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 153,35
EUR 7,59 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. 188 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Brossura
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 157,15
EUR 7,59 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. 188.

- Rilegato
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 153,71
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 188.

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
- Brossura
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 157,63
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 188.