Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method: 10 (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics)

Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Editore: John Wiley & Sons, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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