Pougnet philippe (69 risultati)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer-scale : Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Applications and Metrology at Nanometer-scale : Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method
Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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