Applications and Metrology at Nanometer-scale : Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method

Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Editore: Wiley-ISTE, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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