Atomic force microscopy | Scanning probe microscopy, Scanning tunneling microscope, Heinrich Rohrer, IBM Research - Zurich, Piezoelectricity, Nanometre

Frederic P. Miller (u. a.)

ISBN 10: 6132722157 ISBN 13: 9786132722157
Editore: OmniScriptum, 2026
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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