Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Czanderna, Alvin Warren (EDT); Madey, Theodore E. (EDT); Powell, C. J. (EDT)

ISBN 10: 0306458969 ISBN 13: 9780306458965
Editore: Springer, 1998
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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