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9780306458965 - Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis: 5 (16 risultati)
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![Immagine dell'editore per Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5) [Hardcover] Czanderna, Alvin W.; Madey, Theodore E. and Powell, Cedric J. venduto da BooksElleven](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780306458965-it-300.jpg)
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5) [Hardcover] Czanderna, Alvin W.; Madey, Theodore E. and Powell, Cedric J.
Da: BooksElleven, Three Oaks, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. Nice cover. Previous owner name to front paste down. Clean pages throughout. Binding excellent.
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EUR 58,57
Spedizione EUR 15,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fair. Volume 5. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:9780306458965.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5)
Da: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Used: Good. 1998 hardcover, no dj as issued, xlibrary copy withdrawn, stamp on edge of pages/in book, clean text, clean crisp pages except for stamp, has bookplate, 430 pages::: J-10.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Proceedings of the 172nd WE-Heraeus-Seminar Held in Bad Honnef, Germany, April 7-11, 1997
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Proceedings of the 172nd WE-Heraeus-Seminar Held in Bad Honnef, Germany, April 7-11, 1997
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 456.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 162,54
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 456 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 163,43
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 456.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,46
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 161,45
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,65
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization (5))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 191,22
Spedizione EUR 28,65
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 175,48
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. B.
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EUR 244,90
Spedizione EUR 64,06
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everything works. Superimposed on this ideal world is an understanding of how the parameters of the measurement method, the instrumentation, and the char- teristics of the sample distort this ideal world into something less precise, less controlled, and less understood. The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.
