Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization) (Volume 5)

Czanderna, AW (Ed)

ISBN 10: 0306458969 ISBN 13: 9780306458965
Editore: Plenum Press, 1998
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Discreto Rilegato

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